会員に対する最新鋭の電子顕微鏡シェアリングサービスの提供を行います。基礎研究、技術開発、受託分析、人材育成など様々な用途にご利用いただけるようサポートいたします。
サービスのご提供
- 最先端の装置を利用者様が操作してデータ取得を行うことができます。
- 専門技術スタッフが操作のサポートを行います。
☞ 下記装置についてご利用が可能です。ご興味ございましたら、info[at]anmic.co.jp（[at]は@に置き換えてください）までお気軽にお問い合わせください。
シェアリング装置１
機種名：日本電子社製 JEM-ARM300F（Grand ARM II）
- 加速電圧：300kV～40kV
- ダブルコレクター
- 分解能：STEM-HAADF分解能53pm
- 大口径SDD－EDS検出器
- EELS
- 低損傷(タイコグラフィー、OBF、EDM(静電ドーズ制御システム)等)
- 高速CMOSカメラ(動画撮影)
- 加熱・冷却・大気非暴露
- その他、詳細な仕様についてはお問い合わせください。
シェアリング装置２
3D電子顕微鏡；Thermo Scientific Helios 5 PFIB DualBeam (plasma FIB-SEM)
写真はThermo Scientific様よりご提供いただきました。
特徴
- 広い視野を高分解能で3D観察することができます。
- 最大2.5 µAのイオンビーム電流により高速に加工ができます。
- Gaフリーで加工ができます。
- 単色SEMにより低加速でも高分解能観察が可能です。
- カラム内で清浄な面を出してすぐ観察できるので反応性の高い試料でも劣化なく観察することが可能です。
- その他、詳細な仕様についてはお問い合わせください。